Oferty zespołów > Instytut Elektrotechniki

Oferent:

Instytut Elektrotechniki


woj. dolnośląskie
50-369 Wrocław
M. Skłodowskiej-Curie 55/61


dr inż. Grzegorz Paściak

http://www.iel.wroc.pl

Oferta

System pomiarowy AFM

opis: Aparatura oferuje pomiar szerokiego spektrum właściwości fizycznych. Mikroskopia sił atomowych – AFM (ang. Atomic Force Microscopy), umożliwia pomiar właściwości powierzchni w skali od pojedynczych nanometrów (skala molekularna) do setek mikrometrów. Uznawana jest za jedną z najbardziej uniwersalnych i wszechstronnych narzędzi w rozwoju nanotechnologii. Znalazła zastosowanie do różnych badań w tym biologicznych, chemicznych. Pozwala (dzięki poznaniu budowy obiektu w skali nano) zbadać wpływ na jego właściwości makroskopowe oraz optymalizować parametry technologii wytwarzania materiałów i gotowych produktów.

zdjęcia: